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Strukturelle Konstruktion und Kernalgorithmen für Galvanisierungsanalysatoren
Datum:2022-06-17Lesen Sie:2

BeschichtungsanalysatorZusammensetzungs- und Dickenanalyse zur Erkennung verschiedenster Fremdteile, insbesondere Werkzeugformen, Badeprodukte, Leiterplatten und Oberflächenbehandlungen von Präzisionselektronikkomponenten.

BeschichtungsanalysatorVorteile:

1. Genauigkeit der Analyse

2. breites Analysebereich

3. Mikrolokalisierung

4. Einfache und schnelle Bedienung

5. Zuverlässige Ergebnisse

XYZ Präzisionsmobile Geräte: Schnelle * Positionierung, manuelle / automatische (optional), die automatische Version ermöglicht programmierte Positionierungsmehrpunktige automatische Tests.

Soft- und Hardwarebedienung in zwei Richtungen: menschliches Design, schnelle Bedienung von Software und Hardware in zwei Richtungen.

Zoom + Fokus: Ausgestattet mit empfindlichem Objektiv, um eine empfindliche Fokussierung zu erreichen, kann eine Vielzahl von fremden Teilen und übergroßen Werkstücken gemessen werden.

BeschichtungsanalysatorLeistungsvorteile:

1. EFP-Algorithmus: Mehrschichtige Multielemente, verschiedene Elemente und organische Stoffe, sogar die gleichen Elemente in verschiedenen Schichten können * gemessen werden.

2. Oberlichtdesign: Realisieren Sie eine schnelle, quasi-genaue und stabile Effizienzmessung von übergroßen Werkstücken.

3. Autofokus: Kleine Proben können schnell und klar fokussiert werden.

4. Zoom-Algorithmus: kann den Unterschied in der Tiefe von 90 mm direkt erkennen.

5. Kleine Messfläche: Kleine Messfläche 0,04mm2

6. große Strecke mobile Plattform: manuelle XY-Schiebetisch 100 * 150mm, automatische XY-Plattform 210 * 260mm.

BeschichtungsanalysatorStrukturdesign:

Die optische Wechselvorrichtung des Dickenmessgerätes, die von dem Instrument entwickelt wurde, ermöglicht es Röntgenstrahlen und sichtbaren Lichtkameras, die gleiche vertikale Linie zu erreichen, die visuelle und die Prüfpositionierung zu erreichen, und die Röntgenprofusion ist gering; In Zusammenarbeit mit der EFP-Software, um die Fokus- und Zoom-Dual-Fokus-Funktion zu erreichen, um den Test verschiedener Formenproben mit niedriger und ungleicher Konkubität zu ermöglichen; Der integrierte optische Schalter und der Empfänger verdoppeln den Winkel, wodurch die Fehler durch die Radianennneigung reduziert werden können, während charakteristische Röntgenstrahlen dickere Oberflächen durchdringen können.

BeschichtungsanalysatorKernalgorithmen von EFP:

Das Forschungs- und Entwicklungsteam hat auf der Grundlage der Alpha- und Fp-Methode einen EFP-Kernalgorithmus entwickelt, der die Primärfluoreszenz, Sekundärfluoreszenz, Zielfluoreszenz, Absorptionsverstärkungseffekt, Streuungshintergrund und andere vielfältige Optimierungsiterationen für jedes Element in der Probe berechnet. Die Kombination der optischen Wegwechseltechnik *, das Zoomstruktursystem und ein stabiles Multi-Channel-Impulsanalyse-Erfassungssystem erfordert nur eine kleine Menge an Proben, um die Instrumentfaktoren zu korrigieren, um wiederholte Beschichtungen, Nichtmetalle, leichte Metalle, mehrschichtige Multielemente und die Dicke und den Inhalt der organischen Schicht zu testen.

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