CT-COMPACT nano

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CT-COMPACT nano 2018/10/11 CT-COMPACT nano， Ultrahohe Auflösungen erreichen Submikrometer und leistungsstarke Funktionalität ermöglichen in situ / 4D-Lösungen. Im Vergleich zu herkömmlicher Schirmalyse-Bildgebung ist die CT-COMPACT Nano-Auflösung unbegrenzt von der Probengröße und erreicht eine ultrahohe Auflösung von 0,4 μm, die sich in den Bereichen Materialwissenschaften, Halbleiter, Öl, Gas und Life Sciences eignet. CT-COMPACT nano arbeitet mit komplexen und leicht veränderbaren Zielen. Eine unvergleichliche Systemarchitektur in Kombination mit dem typischen ProCon X-Ray-Design bietet Ihnen ein praktisches und effizientes System. Erzielen Sie qualitativ hochwertige Scanergebnisse durch Submikrometer-Auflösung und ausgezeichneten Kontrast. Eigenschaften · Einfache Bedienung · Berührungslose Messung · Menge von Interesse - Scannen · Materialunabhängige Qualitätskontrolle · Fehlererkennung (Löcher, Risse ...) · Verschiedene Rekonstruktionsalgorithmen Filter Anti-Projektion, Algebra, Statistik · Mehrere Scan-Spuren Circular, Helix, Planar usw. · Erweiterung des Sichthorizonts für viele Scan-Spuren · Volumenskalation (Hounsfield) · Ring-Pseudo-Unterdrückung und Geräuschdämpfungsalgorithmen · Strahlenhärterungskorrektur und Metall-Pseudo-Reduzierung · Jitterungskorrektur für die Drift-Kompensation · Phasen- und Dunkelfeldkontrast-Optionen · Matlab / Python / Labview zum Schreiben von Skripten

Produktdetails

CT-COMPACT nano， Ultrahohe Auflösungen erreichen Submikrometer und leistungsstarke Funktionalität ermöglichen in situ / 4D-Lösungen. Im Vergleich zu herkömmlicher Schirmalyse-Bildgebung ist die CT-COMPACT Nano-Auflösung unbegrenzt von der Probengröße und erreicht eine ultrahohe Auflösung von 0,4 μm, die sich in den Bereichen Materialwissenschaften, Halbleiter, Öl, Gas und Life Sciences eignet.

CT-COMPACT nanoSie arbeiten mit komplexen und leicht veränderbaren Zielen. Eine unvergleichliche Systemarchitektur mit typischenProCon X-RayDie Kombination des Designs bietet Ihnen ein praktisches und effizientes System. Erzielen Sie qualitativ hochwertige Scanergebnisse durch Submikrometer-Auflösung und ausgezeichneten Kontrast.

Eigenschaften

· Einfache Bedienung

• Berührungslose Messung

· Anzahl der Interessen-Scannen

Qualitätskontrolle unabhängig vom Material

• Fehlererkennung (Löcher, Risse)......）

· Verschiedene Rekonstruktion Algorithmen Filter Anti-Projektion, Algebra, Statistik

Mehrere ScanspurenCircular，Helix，PlanarWarten Sie!

· Erweiterte Sichthorizonte für viele Scanspuren

• Größenordnung (Hounsfield）

· Ringförmige Pseudo-Unterdrückung und Geräuschdämpfungsalgorithmus

· Strahlhärtungskorrektur und Metallfalsifizierung reduziert