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Japanische PSTS Solarzellen mit Silizium-Platte Nutzträgermessgerät

Im Gegensatz zu herkömmlichen Produkten hat das Produkt
Miniaturisierte Desktop-Größe, die Wafer auf einmal messen kann.
Bitte zögern Sie nicht, uns für weitere Informationen zu kontaktieren.
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Miniaturisierte Desktop-Größe, die Wafer auf einmal messen kann.
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Das Solarzellenträgerstrommessgerät "VWECER-100-S" mit Siliziumflatten verwendet die neue Technologie "HS-CMR-Methode", die vom Institut für Metallmaterialien der Northeastern University entwickelt wurde, um die Qualität von Siliziumflatten zu messen. Da die Qualität bereits in der Siliziumflattenphase genau bestimmt und identifiziert werden kann, können Siliziumflatten von niedriger Qualität in die Batterieproduktionslinie vermieden werden. Dadurch wird die Verschwendung der Batterieproduktion reduziert und eine Steigerung der Fertigproduktivität ermöglicht.
Der VWECER-100-S ermöglicht eine umfassende Messung aller Elemente in Siliziumfliechen, die mit der Energieumwandlungseffizienz verbunden sind (Elektronen, Löcher, Mängel, Verunreinigungen usw.), um die Anzahl der Nutzträger, die die Stromerzeugung beeinflussen, mit einem Parameter genau zu messen. Die Messungen des VWECER-100-S haben einen direkten Zusammenhang mit der Umwandlungseffizienz bei der Herstellung von Siliziumflatten in Solarzellen. Die Leistung einer optisch nicht erkennbaren Siliziumsolarzelle kann als "potenzielle Konvertierungseffizienz" gemessen werden. Durch die Identifizierbarkeit können keine Siliziumflatten mit potenziell niedriger Umwandlungseffizienz in der Batterieproduktionslinie verwendet werden, was die Produktionskosten erheblich senken kann. Darüber hinaus wurde durch die Identifizierung der Anzahl der Nutzlagerströme in Siliziumflatten, die bisher nicht genau gemessen werden konnten, auch die Verbesserung der "PN-Knottentechnologie", einer der wichtigen Technologien in Solarzellen, unterstützt.
Japanische PSTS Solarzellen mit Silizium-Platte Nutzträgermessgerät