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Zimmer 1501-1502, Gebäude 1, Guosheng Center, 388, Zhongjiang Road, Putuo, Shanghai
Shanghai Yunding International Trade Co., Ltd.
william@eutin.cn
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Zimmer 1501-1502, Gebäude 1, Guosheng Center, 388, Zhongjiang Road, Putuo, Shanghai
UltraScan PRO ist ein Doppelstrahlblitz-Xenonlampenspektrometer mit Wellenlängenbereich von 350 bis 1050 nm
In Metern (nm) basieren alle drei Stimulierungswerte auf einem dreieckigen Bandpass mit einer halben Bandbreite von 5 nm und basieren auf
Die Berechnung erfolgt in Abschnitt 7.3.1 der ASTM-Norm E308. Der Wellenlängenintervall beträgt 5 nm.
Das Farbmesser verwendet die Innenwand beschichtet mit SpectraflectTM, ein 6 'Durchmesser integrierte Kugel, die aus drei installiert
Die Xenonlampe strahlt Licht aus. Eine Lampe liefert nur Licht im UV-Bereich; Eine Lampe liefert nur IR (rot)
Außenlicht; Die dritte Lampe liefert Licht für das gesamte Spektrum.
Beleuchtungs- und Beobachtungsbedingungen
Geometrie Diffusionsbeleuchtung, mit 6' (152,4 mm) Spectraflect beschichtet ™ der
Die Kugel 8 ° beobachten. Loch Schlüssel und Entfernen Spiegel Reflex Loch Tür Beschichtung
von Duraflect™.
Beleuchtung Xenonlampe mit einer Lebensdauer von mindestens 500.000 Blinken
Multifarber (2) Hologramm-Raster
Detektoren (2) 512 Diodenarranges
Schnittstellenmodus Serienport RS-232 oder USB
Beobachtungsfläche Große Beobachtungsöffnungsgröße: Durchmesser 1' (25,4 mm)
Große Beobachtungsmessfläche: Durchmesser 3/4' (19mm)
Größe der mittleren Beobachtungsöffnung: Durchmesser 1/2' (13mm)
Mittelfläche Beobachtungsmessfläche: Durchmesser 0,35' (9mm)
Kleine Beobachtungsöffnungsgröße: Durchmesser 1/4' (7mm)
Kleine Beobachtungsmessfläche: Durchmesser 5/32' (4mm)
Messmodus Reflexivität - einschließlich Spiegelreflexion (RSIN)
Reflexivität - Beseitigung der Spiegelreflexion (RSEX)
Gesamtdurchlässigkeit (TTRAN) bis zu 80 mm
Richtungsdurchlässigkeit (RTRAN) bis zu 80 mm
Instrumentleistung (Instrument Performance)
Wellenlängenbereich 350-1050 nm
Wellenlängenbanddurchgang Wirksamer 5 nm Dreieckbanddurchgang mit 5 nm Ausgang
Wellenlängenintervall 5 nm