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Platinum Rada (Beijing) Technologie Co., Ltd.
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Leica DMi8 Umkehrmikroskop

VerhandlungsfähigAktualisieren am01/13
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Leica DMi8 Umkehrmetallasmikroskop 07.06.2018 Leica DMI8 Umkehrmetallasmikroskop zur detaillierten Beobachtung von Proben Sie möchten große Proben beobachten und ausführlich analysieren? Mit den Makro*-Objektiven von Leica Microsystems können Sie mehr Probendetails in kürzerer Zeit beobachten. Mit nur einem Klick können Sie vom Makromodus (35 mm) in den Nanomodus (1 nm) wechseln. Leica Makroskopjektive bieten ein Vierfach größeres Sichtfeld als Standard-Objektive (mit einer 0,7-fachen Vergrößerung können Sie das Profil einer 35,7-mm-Probe beobachten). Sie können zwischen verschiedenen Vergrößerungen wechseln: – 0,7x – 5x – 10x – 20x- 50x – 100x – und die Probe aus verschiedenen Winkeln beleuchten. Ein 3-Gang-Fokusantrieb ermöglicht eine empfindliche, einstellbare Fokussierung bei unterschiedlichen Vergrößerungen, um die Effizienz Ihrer Probenerkennung zu erhöhenMehr Details mit der UC-3D-Beleuchtung Leica Microsystems bietet eine ultrakontrastische 3D-Beleuchtung. Es beleuchtet die Probe aus verschiedenen Winkeln, um Ihnen zu helfen, mehr Informationen über die Oberflächenstruktur zu erhalten und einen höheren Kontrast zu erzielen. So können Sie mehr Probendetails in kürzerer Zeit beobachten. Integrierte Beleuchtungslösungen erleichtern das Benutzererlebnis. .....
Produktdetails

Umkehrtes Metallphasemikroskop Leica DMI8
Sie müssen große Proben beobachten und ausführlich analysieren? Mit den Makro*-Objektiven von Leica Microsystems können Sie mehr Probendetails in kürzerer Zeit beobachten. Mit nur einem Klick können Sie vom Makromodus (35 mm) in den Nanomodus (1 nm) wechseln.
Leica Makroskopjektive bieten ein Vierfach größeres Sichtfeld als Standard-Objektive (mit einer 0,7-fachen Vergrößerung können Sie das Profil einer 35,7-mm-Probe beobachten).
Sie können zwischen verschiedenen Vergrößerungen wechseln: – 0,7x – 5x – 10x – 20x- 50x – 100x – und die Probe aus verschiedenen Winkeln beleuchten.
Der 3-Gang-Fokus-Antrieb ermöglicht eine sensible, einstellbare Fokussierung bei unterschiedlichen Vergrößerungen, um Ihre Probenerkennung zu verbessern

Mehr Details mit der UC-3D-Beleuchtung
Leica Microsystems bietet eine ultrakontrastische 3D-Beleuchtung. Es beleuchtet die Probe aus verschiedenen Winkeln, um Ihnen zu helfen, mehr Informationen über die Oberflächenstruktur zu erhalten und einen höheren Kontrast zu erzielen. So können Sie mehr Probendetails in kürzerer Zeit beobachten.
Integrierte Beleuchtungslösungen für ein einfacheres Benutzererlebnis
Erhalten Sie keine zusätzlichen Kosten für weitere Probeninformationen
Sie können zwischen manueller oder elektrischer Leica-Version wählen
  

Technische Daten
1, hochintelligentes digitales Umkehrmikroskop
2, Multiplex-Farbdifferenz-Lichtweg, der gesamte Lichtweg unterstützt 25mm Sichtfelddurchmesser
3, 6-Loch-Elektroobjektiv-Drehscheibe, mit Objektiven mit 32mm Durchmesser
Eingebautes manuelles oder elektrisches Tuning-System mit elektrischer Fokussierungsgenauigkeit von 0,015um
5, kann halbautomatisches offenes Feld, dunkles Feld, Polarisation, Interferenz, UC-3D、 Fluoreszenzbeobachtung
6, eingebaute LED-Durchlässigkeit, reflektierte Beleuchtung Stromversorgung, intelligente Lichtintensität Änderung der Kontrolle der Beleuchtung
7. Ergonomischer Beobachtungsspiegel, kann den Neigungswinkel von 15°-46° ändern
8, kann sich automatisch erinnern, die Lichtquelle unter verschiedenen Objektiven und unter verschiedenen Beobachtungsformen, intelligente Lichtintensitätsänderungen zu steuern
 
9, der Arbeitszustand der einzelnen Komponenten des Mikroskops mit LCD-Anzeige, die Parameter
10, Lichtintensität, Lichtpendenz, Beobachtungsmodus und Fokus-Einstellung können durch Tasten und Computerbetrieb gesteuert werden, und automatisch in den Fotos unter verschiedenen Multiple-Objektiven aufgenommen, die entsprechende Multiple-Maßstäbe mit einem farbtemperaturkonstanten System hinzufügen, um die Arbeitsproduktivität zu gewährleisten
Anpassbare Kamera, Digitalkamera zur Bilderfassung, Analyse und Messung
12. Anpassbar zum automatischen Scan-Tisch für die automatische Analyse von nicht-metallischen Zwischenteilen mit mehreren Sichtfeldern