XRF-2020 Elektrobeschichtungsdickenmeter Korea Pionier

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XRF-2020 Elektrobeschichtungsdickenmessger?t Koreanischer Pionier mit CCD-Objektiven beobachtet die schnelle zerst?rungsfreie Prüfung der Beschichtungsdickenmessung von Vergoldet, Vernickelt, Kupfer, Chrom, Nickel, Zink, Silber, Vernickelt, Verzinkt. .. Messbare Einzelschicht, Doppelschicht, Mehrschicht, Legierung Beschichtung Erkennung Elektronik Beschichtung, Hardware Beschichtung, Anschlussverbinder und andere Produkte Beschichtung Schicht Dicke kann gemessen werden, vergoldet, versilbert. Verzinkt. Vernickelt, verzinnt. Verchromung, Verzinkung Nickel und andere k?nnen weit verbreitet in der Beschichtung Produktionsunternehmen und Fertigprodukte Einsatz Prüfung effektiver Kontrolle der Produktbeschichtung Schichtdicke und Qualit?t

Produktdetails

XRF-2020 Elektrobeschichtungsdickenmeter Korea Pionier

Schnelle, verlustfreie Prüfung der Schichtdicke durch CCD-Objektive

Messung von Vergolden, Vernickeln, Kupfer, Chrom, Nickel, Zink, Silber, Verzinken, Zinn. ..

Messbare Einzelschicht-, Doppelschicht-, Mehrschicht- und Legierungsbeschichtung

Erkennung der Schichtdicke von Elektronikbeschichtungen, Hardware-Beschichtungen, Anschlussverbindern und anderen Produkten

Messbar vergoldet und versilbert. Verzinkt. Vernickelt, verzinnt. Chrom, Nickel etc.

Viel verbreitet in der Beschichtungsproduktion und Fertigprodukte

Einfachere Kontrolle der Produktschichtdicke und -qualität.

Es kann verwendet werden, um die Dicke verschiedener Metallbeschichtungen von Werkstücken, Leiterplatten und Produkten wie Hardware, Steckverbinder, Halbleiter zu messen.

Es dauert nur 10-30 Sekunden, um Messergebnisse zu erhalten, wenn der Durchmesser des Messprodukts größer ist als 0,4 mm;

Messbereich: 0-35um;
Messbar für die Dicke verschiedener Metallbeschichtungen wie Elektrobeschichtung, Verdampfung und Ionenbeschichtung
Über eine CCD-Kamera können kleine Flächen beobachtet und ausgewählt werden, um kleine Flächen zu messen

XRF-2020 Elektrobeschichtungsdickenmeter Korea Pionier

Messprinzip:

Nachdem die Substanz durch Röntgenstrahlen oder Partikelstrahlen bestrahlt wird, wird sie durch die Aufnahme überschüssiger Energie in einen instabilen Zustand verwandelt. Um von der Instabilität in den Stabilitätszustand zurückzukehren, muss die Substanz die überschüssige Energie freigeben, die in Form von Fluoreszenz oder Licht freigegeben wird. Das Prinzip eines Fluoreszenz-Röntgenbeschichtungsdickenmessers oder Komponentenanalysators besteht darin, die Energie und Intensität der freigegebenen Fluoreszenz zu messen, um qualitative und quantitative Analysen durchzuführen.

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