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Shanghai Haoliang Optoelectronic Equipment Co., Ltd
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Hochauflösende Vorwellenanalysatoren/Vorwellensensoren/Vorwellendifferenzmesser

VerhandlungsfähigAktualisieren am01/22
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Übersicht

Der hochauflösende Vorwellenanalysator/Vorwellensensor/Vorwellendifferenzmesser basiert auf der vierwelligen horizontalen Schnittinterferenztechnologie. Die Vorwellenanalysatoren der SID4-Serie bieten im Vergleich zu herkömmlichen Schack-Hartmann-Vorwellendetektoren die Vorteile von hoher Auflösung, Farbdeuerung, hoher Empfindlichkeit, hohem dynamischen Erkennungsbereich, einfacher Bedienung usw.*

Produktdetails

Hochauflösende Vorwellenanalysatoren/Vorwellensensoren/Vorwellendifferenzmesser

400x300hohe Auflösung,500umHoher Dynamikumfang, hohes Kostenverhältnis und gleichzeitige Erkennung von Vor- undM^2Vorwellensensoren!

Schlüsselwörter:Vorwellensensoren, Vorwellenanalysatoren, Vorwellendifferenzmesser, Sensoren, Vorwellentester,VorwellendetektorLaser-Vorwellenanalysator, Hartmann-Vorwellenanalysator,Iris PositionierungHartmann-Vorwellensensor, Vorwellen-Differenz, Hochauflösungs-Vorwellenanalysator, Vorwellenmessgerät, Laserstrahl- und Vorwellenanalysator, Schack Hartman, die KameraMTF

Eigenständig entwickeltDer Vorwellensensor istBasierend auf der vierwelligen Querschneidtechnologie.SID4SerieVorwellenanalysatoren im Vergleich zu herkömmlichen Schack-Hartmann-VorwellendetektorenHohe AuflösungFarbverlust, hohe Empfindlichkeit,Hoher dynamischer ErkennungsbereichVorteile der einfachen Bedienung* fürVorwelle schlechtErkennung von Vorwellenverstörungen und Laserstrahlen undVor der WelleDie Messung, Analyse, Positionierung der Iris des Auges und andere sorgen für eine völlig neue Lösung!Der Vorwellendetektor ist mit einer freundlichen Software-Schnittstelle ausgestattet und ermöglicht eine intuitive Ausgabe von hochauflösenden Phasenarrahmen und Strahlenintensitätsverteilungen.

Hochauflösende Vorwellenanalysatoren/Vorwellensensoren/Vorwellendifferenzmesser

Hersteller von Vorwellensensoren habenStarke technische Forschungs- und Entwicklungsfähigkeit, die Kunden verschiedene adaptive optische Systeme anbieten könnenOA-SYS (Adaptive Optics Loops),Entwicklung individueller Lösungen. Kann entsprechend den Bedürfnissen der Anwendung des Kunden, geeignet für den Kunden * zuiSID4Vorwellensensoren, deformierbare Spiegel oderRaumlichtmodulatorAdaptive optische Systembedienungssoftware usw.

Abbildung 1 Vor- und Nachkorrektur im Vergleich

Vorwellendetektor nach seinen vier Wellen horizontal geschnittenInterventionTechnologie, die Hartman-Maske-Technologie wurde erheblich aktualisiert und verbessert.Der Vorwellensensor wird400x300Die hohe Auflösung und500umDer übergroße Dynamikbereich* wird zusammen kombiniert. Es kann die Anwendungsanforderungen verschiedener Kunden erfüllen und den Laserstrahl mit Lichtintensität, Phase,PSF(Punktdiffusionsfunktion),MTF(Modulationsfunktionen),OTF(optische Übertragungsfunktion),Vorwelle schlechtundM^2Echtzeit, einfache und schnelle Messungen.

* AbteilungProduktvorstellung

SID4 UV-HRHochauflösender UV-Vorsensor

Unternehmen wirdSID4Der Wellenlängenbereich der Vorwellenmessung wird auf190nm-400nm.SID4 UV-HREin hochauflösender Vorwellensensor für das UV-Band, ideal für die Messung von optischen Komponenten (z. B. Druck, Halbleiter usw.) und die Oberflächendetektion (Halbleiterchipdetektion usw.).

Merkmale:

uHohe Auflösung(250x250)

uGroßer Durchmesser(8,0mmx8,0mm)

uAbdeckung UV-Spektrum

uHohe Empfindlichkeit(0,5 um)

uOptimierung des Signal-Rausch-Verhältnisses

Abbildung 2 SID4-UV-Voranalyser

SID4Vorwellensensoren

verwendbar für400 nm bis 1000 nm Laser Wellenpräposition, Intensitätsverteilung, Wellenpräposition Differenz, Laserder M2Zenik-Parameter usw. für Echtzeit-Messungen und Parameterausgabe.

Merkmale:

Auf der UnterseiteWellenlängenbereich:400-1100nm

Auf der UnterseiteHohe Auflösung(160x120)

Auf der UnterseiteSchwache Färbung

Auf der UnterseiteHohe Messstabilität

Auf der UnterseiteUnempfindlich gegen Vibrationen

Auf der UnterseiteEinfache Bedienung

Auf der UnterseiteKompakt und klein

Auf der UnterseiteVerfügbare Laptop-Steuerung

Abbildung 3SID4Phasenerkennung

Kann zur Prüfung verschiedenerLinsen, optische SystemeDie Prüfung von Linsen und optischen Systemen kann in Echtzeit durchgeführt werden.PSF(Punktdiffusionsfunktion),MTF(Übertragungsfunktion),OTF(OptischeÜbertragungsfunktionVorwellen-Differenzmessung und Parameterausgabe. Im Vergleich zu den herkömmlichen Objektivprüfgeräten wie: Transmitter, Interferometer, die einfache Bedienung, hohe Messgenauigkeit, bequeme Parameterausgabe und andere Vorteile haben, werden von immer mehr Kunden geschätzt.

Merkmale:

uWellenlängenbereich:400-1100nm

uHochleistungskamera mit hohem Rauschverhältnis

uEchtzeit-Messungen, die sofort Informationen über die gesamte Objektoberfläche geben (120000einen Messpunkt)

uExtrem kurze Belichtungszeit für dynamische Objektmessungen

uEinfache Bedienung

Abbildung 4SID4-HR

Bild5 SID4-HRÜbertragungsfunktionserkennung

SID4 NIR Vorwellenanalysator

Hauptziel1550 nm(1,5um-1,6um)Lasererkennung mit hoher Auflösunghohe Empfindlichkeit,Hoher DynamikbereichVorteile der einfachen Bedienung* kann zur optischen Messung verwendet werden,SID4 NIRdie Differenz zwischen Infrarotobjekten und Infrarotlinsen messen,PSFundMTFDas ideale Werkzeug für Brennweite und Oberflächengüte.

Merkmale:

²hohe Auflösung (160x120)

²Schnelle Messung

²Preis-Leistungs-Verhältnis

²Messen

²Unempfindlich gegen Vibrationen

Bild6 SID4 NIRLaserwellenprüfung

SID4 DWIRWellenprätometer

Eigenschaften der Breitbandmessung. Echtzeit erkennbar3-5umund8-14umVorwelleninformationen über die Wellenpräphase, die Intensitätsverteilung und andere Antworten. Es kann die Anforderungen der Kunden im Infrarotband zur Vorwellendetektion gut erfüllen.

Merkmale:

uOptische Messungen:SID4 DWIRist die Messung der Eigenschaften von Infrarotobjekten (Wärmebildgebung und Sichtsicherheit) oder Infrarotlinsen (CO2Laser) das ideale Werkzeug, das Ergebnis umfasstMTF,PSFUnterschiede wie Oberflächengüte und Linsenbrennweite.

uLichtmessung: (CO2Laser, InfrarotOPOLaserlichtquellen usw.)SID4 DWIRBereitstellung detaillierter Strahleigenschaften: Differenz,der M2Lichtverteilung, Lichtstrahleigenschaften usw.

uhohe Auflösung (96x72)

uRealisierbare Messungen

uÜberdeckt mittleres Infrarot- und fernes Infrarotband Große numerische Aperturmessung ohne zusätzliche Transitlinsen

uSchnelle Messung Unempfindlich gegen Vibrationen

uAbwellenmessung möglich

uPreis-Leistungs-Verhältnis

Bild7SID4 DWIR

SID4Zusammenfassung der Produktparameter

Modell

SID4

SID4-HR

SID4 UV-HR

SID4 NIR

SID4 DWIR

SID4-SWIR

Durchmessergröße (mm2)

3,6 x 4,8

8,9 x11,8

8,0 x 8,0

3,6x4,8

13,44x10,08

9,6x7,68

Raumliche Auflösung(um)

29.6

29.6

32

29.6

140

120

Messpunkte

160x120

300x400

250x250

160x120

96x72

80x64

Wellenlängenbereich

350 bis 1100 nm

350 bis 1100 nm

190 bis 400 nm

1,5-1,6 µm

3-5 µm 8-14 µm

0,9 bis 1,7 µm

Genauigkeit

10nm RMS

10nm RMS

10nm RMS

> 15 nm RMS

75nm RMS

10nm RMS

Dynamischer Bereich

> 100 µm

> 500 µm

> 200um

> 100 µm

/

~ 100 µm

Probenabgabegeschwindigkeit

60 fps

10 fps

30 fps

60 fps

50 fps

60 fps

Verarbeitungsgeschwindigkeit

> 10 fps

> 3 fps

1fps

< 10 fps

20 Hz

> 10 Hz

Zweiter TeilSteuerungssoftware

SID4Steuerungssoftware für Vorwellenanalysatoren

SID4Steuerungssoftware für VorwellenanalysatorenKomplett mit dem SID4-Vorwellensensor ist eine vollständige Analysesoftware zur Integration von hochauflösenden Phasen- und Intensitätsverteilungen zur Messung der Lichtintensitätsverteilung und der Vorwelleninformationen verfügbar.

Mit HilfeLabviewundC++Programmierbare Moduldatenbank (Software-Sekundärentwicklungskit) ermöglicht es Kunden, verschiedene Phasenmess- und Kompilierungsmodule nach eigenen Bedürfnissen zu erstellen.

Adaptive Optik SchleifengebenSID4 Wellenfront-SensorWählen Sie den passenden deformierbaren Spiegel oder Phasenmodulator für Ihre Anwendung und bieten ein komplettes adaptives optisches System. Es war nie einfach, den Unterschied zwischen jedem optischen System zu reduzieren, und unsere Produkte bieten zuverlässigere, präzisere Lösungen für Laserstrahlen und Bildsysteme.

Bild8 SID4Steueroberfläche

SID4Optische MesssoftwareKaleo

Vorwellensensor auf der Grundlage von Schnittinterferenzen mit speziell entwickelter optischer MesssoftwareKaleoIn Kombination können Differenzen zwischen Sphärischen und Nicht-Sphärischen Spiegeln undMTFwarten Informationen. In nur wenigen Sekunden zeigt Ihnen unser Instrument die meisten optischen Parameter wie Brennweite, Licht,MTFwie schlecht,ZernikeKoeffizient, Krümmungsradius,PSFWarten Sie.

Dritter TeilVergleich mit herkömmlichen Hartmann-Voranalysern

Vergleich mit herkömmlichen Messungen des Hartmann-Vorsensors:

Technische Parameter im Vergleich:

PHASIKEN

Schack-Hartmann

Unterschied

Technologie

Schnitt Intervention

Mikrolinsen-Array

PHASIKENBei der Markteinführung wurde die Technologie angewendet, eine Upgrade der Schack-Hartmann-Technologie

Wiederaufbauweise

Fourier-Transformation

Partition- oder Mustermethode

Schack-Hartmann-Vorwellendetektor mit lokalen Ableitungen, die dem Durchschnitt der Mikrolinseneinheitsbereiche annähern, mit hohem Fehler

Stärke

Unempfindlich gegen Intensitätsänderungen

Empfindlich gegen Stärketsänderungen

PHASIKENHohe Messgenauigkeit, Vorwellenmessungen unabhängig vom Intensitätsniveau

Kalibrierung

Einfach und schnell mit Nadellöchern kalibrieren

Schwierige Installation erfordert eine präzise Regulierung

PHASIKENEinfach zu bedienen

Probenahme

SID4-HRDa300x400Messpunkte

128x128Messpunkte (mehrere Mikrolinsen)

PHASIKENMit höherer Auflösung

Numerischer Durchmesser

NA:0.5

NA:0.1

PHASIKENHöherer Dynamikbereich

Auflösung

29,6 μm

115 μm

PHASIKENHöhere räumliche Auflösung

Messgenauigkeit

2nm RMS

5 nm RMS

PHASIKENBessere Messgenauigkeit

Erhalte Frequenz

60 fps

30 fps

PHASIKENSchnelle Beschaffung

Verarbeitungsfrequenz

> 10 Hz

30 Hz

PHASIKENErfüllt die meisten Bearbeitungsanforderungen

Schwache Färbung

Keine Kalibrierung jeder Wellenlänge erforderlich

Korrektur für jede Wellenlänge erforderlich

PHASIKENFlexibeler und ermöglicht Breitbandtests ohne Kalibrierung

Vierter TeilAnwendungsbereich

Auf der UnterseiteLaser, Astronomie, Mikroskopie, Augenmedizin usw.Komplexe AnpassungPräwavendifferenzerkennung optischer Systeme

Auf der UnterseiteLaserstrahleigenschaften, Vorwellen-Differenz,M^2Testen der Stärke usw.

Auf der UnterseiteInfrarot- und Nahinfrarotdetektion

Auf der UnterseiteParallele Lichtröhre/Inspektion und Montage von Teleskopsystemen

Auf der UnterseiteSatellitenbildgebung, Biobildgebung, Wärmebildgebung

Auf der UnterseiteKugelförmig, nicht kugelförmigOptische Bauteilprüfung(Ebene,Kugel,Linsen)

Auf der UnterseiteIris Positionierung Differenz Führung

Auf der UnterseitePräzisionsdetektion von optischen Komponenten mit großem Kaliber

Auf der UnterseiteBereich Laserkommunikation

Auf der UnterseiteLuft- und Raumfahrt