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Changsha Komei Analyse Instrumente Co., Ltd.
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Hitachi-Stand-Emissions-Elektronenmikroskop HF-3300

VerhandlungsfähigAktualisieren am03/18
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Übersicht
Die Kombination des HF-3300, der renommierten Hitachi-Elektronenpistole mit Kaltfeld und des 300kV-Hochspannungssystems sorgt dafür, dass das HF-3300 eine hochauflösende Bildgebung und eine hochempfindliche Analysefähigkeit bietet. Die HF-3300 verfügt über die duale duale Prisma-Holographie-Funktion, um Informationen zu erhalten, die für viele Transmissionselektronenmikroskopien nicht verfügbar sind, insbesondere Phaseninformationen im Zusammenhang mit den physikalischen Eigenschaften des Materials (z. B. elektrische Felder, Magnetfelder usw.). In Kombination mit dem Element Electronic Energy Loss Spectrum (EELS) und der hochpräzisen Parallel Nanostrahldiffraktionstechnologie kann der HF-3300 auch ultrahohe räumliche Auflösungen untersuchen.
Produktdetails

Hitachi-Stand-Emissions-Elektronenmikroskop HF-3300

Produktbeschreibung:

Das HF-3300 ist ein 300kV Kaltfeld-Emissions-Transmissionselektroskop und die Kombination der renommierten Hitachi Kaltfeld-Emissions-Elektronikpistole mit einem 300kV-Hochspannungssystem gewährleistet das HF-3300 mit ultrahochauflösender Bildgebung und hochempfindlicher Analysefähigkeit. Die HF-3300 verfügt über die duale duale Prisma-Holographie-Funktion, um Informationen zu erhalten, die für viele Transmissionselektronenmikroskopien nicht verfügbar sind, insbesondere Phaseninformationen im Zusammenhang mit den physikalischen Eigenschaften des Materials (z. B. elektrische Felder, Magnetfelder usw.). Zusammen mit der Element Electronic Energy Loss Spectrum (EELS) und der hochpräzisen parallelen Nanostrahldiffraktionstechnologie kann der HF-3300 auch die Elementanalyse und die strukturellen Merkmale von Materialien mit ultrahoher räumlicher Auflösung untersuchen, was eine neue Tür für die Materialforschung eröffnet.

Hauptmerkmale des HF-3300:

Hohe Helligkeit Feld Abfeuern Elektropistole kalt
Die Eigenschaften der angeborenen hohen Helligkeit und hohen Energieauflösung von Elektropistolen mit kaltem Feld ermöglichen analytische Forschung im Nanomaßstab, die zu ultrahochauflösenden Bildern und Elektronischer Hologrammie beiträgt.

300kV Hochspannungssystem

Das 300kV-Hochspannungssystem verfügt über eine höhere Durchdringungsfähigkeit, die eine atomare Auflösung von dicken Proben gewährleistet und die Schwierigkeit der Probenvorbereitung verringert, insbesondere für die Beobachtung von Proben mit hoher Atomanzahl wie Metall, Keramik und andere.

* Analysefähigkeit
Neu wurden Analysetechnologien wie die Dual-Dual-Prism-Holography-Funktion, das Elektronenenergieverlustspektrum mit hoher räumlicher Auflösung (EELS) und die hochpräzise parallele Nanostrahldiffraktionstechnologie* eingeführt.

Mit FIB kombinierbare Probenstänge
Die patentierten Probenstänge von Hitachi sind für FIB, TEM und STEM geeignet.

Einfach zu bedienendes Steuersystem
Das Windows-basierte Computersteuerungssystem, der motorgetriebene bewegliche Lichtappendix und der 5-Achs-Motorprobenstand machen das Instrument einfach zu bedienen, wobei eine 10-minütige Druckerhöhungszeit und eine 1-minütige Probenwechselzeit einen effizienten Betrieb des Instruments gewährleisten.

Technische Parameter:

Projekt Hauptparameter
Elektronische Waffe Einkristallines Wolfram (310) Elektropistole mit Kaltfeld
Beschleunigte Spannung 300kV und 200kV*und 100kV*
Punktauflösung 0,19 nm
Linienauflösung 0,10 nm
Informationsauflösung 0,13 nm
Vergrößern Niedrig: 200x - 500x; Beobachtungen: 2.000x - 1.500.000x
Bild drehen ≤±5° (Beobachtungsmodus, unter 1.000.000x)
Probe Neigung ±15°
Länge der Kamera 300 – 3.000 mm
Spektrale Stereowinkel* 0,15Sr

Anwendungsbereiche:

HF3300 als Hochspannungs-Transmissionselektroskop mit kaltem Feld kann als Gerät zur hochauflösenden Beobachtung der meisten Materialien (Metall, Keramik usw.) verwendet werden, um die Schwierigkeit der Probenarbeitung zu vereinfachen und eine hohe Auflösung zu gewährleisten. Gleichzeitig kann HF-3300 auch die Anforderungen der Analyse mit hoher räumlicher Auflösung erfüllen, die hohe Helligkeit und die geringe Farbdifferenz des Kaltfeldes bieten eine Garantie für die Element- und Strukturanalyse mit hoher räumlicher Auflösung, die EELS und die Nanostrahldiffraktionsfunktion ermöglichen, um die Verteilung von Elementen im Nanoskala und die Forschung der Kristallstruktur zu erreichen. Die duale Prisma-Hologrammgebung ermöglicht es dem HF-3300, mehr Informationen über Proben, insbesondere über die physikalischen Eigenschaften, zu erhalten, was den Anwendungsbereich erheblich erweitert.