Hitachi Hyundai Launch Scan Elektronenmikroskop SU8200 Serie

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Hitachi Hyundai Field Launch Scan-Elektronenmikroskope SU8200-Serie, (SU8220, SU8230, SU8240) Kaltfeld-Scan-Elektroskope verwenden eine völlig neue Konstruktion Kaltfeld-Launch-Elektronenpistole, die nicht nur * alle Vorteile der früheren Kaltfeld-Launch-Scan-Elektroskope einhält, sondern auch den Sondenstrom erheblich verbessert und * die Stabilität des Stroms verbessert. Diese Vorteile ermöglichen eine hohe Auflösung von Beobachtungs- und Analysefunktionen bei niedriger Beschleunigungsspannung über lange Zeit.

Produktdetails

Hitachi: Neues Field Launch Scan-Elektronenmikroskop der Serie SU8200 (SU8220, SU8230, SU8240)

Instrumenteinleitung:

Die SU8200-Serie ist ein innovatives Kaltfeldelektroskop der neuen Generation, das Hitachi High Tech nach Jahren intensiver Forschung und Investitionen entwickelt hat.Es hält nicht nur * alle Vorteile früherer Kaltfeld-Emissions-Scannelektroskope fest, sondern verbessert auch den Sondenstrom erheblich und * verbessert die Stabilität des Stroms. Diese Vorteile ermöglichen eine hohe Auflösung von Beobachtungs- und Analysefunktionen bei niedriger Beschleunigungsspannung über lange Zeit.Diese Serie von Scan-Elektroskopen hat alle Vorteile der früheren Kaltfeld-Emissions-Scan-Elektroskopen während der Sondenstrom erheblich verbessert, die Stromstabilität wurde * verbessert, während die Wartezeit nach dem Drahtflash vermieden wird, kann gesagt werden, dass es alle Schwachstellen der früheren Kaltfeld-Elektroskopen ausmacht, um ein echtes ultrahochauflösendes analytisches Kaltfeld-Scan-Elektroskop zu werden, das eine realistische Version der * Rückkehr zeigt!

Hauptmerkmale der Hitachi High-Tech-Launch-Scan-Elektronenmikroskop-Serie SU8200:

Hitachi Hightech neu entwickelte Kaltfeld-Elektropistole

1. Die hohe Helligkeitsstabilität nach dem Bombardieren mit Elektropistolen, der Strahlstrom ist größer und stabiler, die Beobachtung und Analyse mit hoher Auflösung

Erhöhte Auflösung (1,1 nm/1kV, 0,8 nm/15kV)

3. Hochvakuumprobenlager zur Verringerung der Verschmutzung

4. Visualisierung verschiedener Materialkontraste durch den oberen Filter (optional)

Technische Parameter der Hitachi High-Tech-Launch-Scan-Elektronenmikroskop-Serie SU8200:

Anwendungsbereiche:

1. Nanomaterialien;

2. Halbleitergeräte;

3. Polymerenmaterialien;

4. Biomedizin;

5. Neue Energien;

Probe: Interporöse Siliziumdioxid-Nanokugeln; Landespannung: 500 V

Probe: Kaohsiung; Landungsspannung: 50V

Probe: Au/Cu2O Kern-Schale-Nanowürfel; EDX-Spektrifizierungsbedingungen: 5 kV, 0,7 nA, 15 min, 150.000×

(Oberfilter ausgeschaltet) (Oberfilter aktiviert)

Probe: Positivmaterial für Lithium-Ionen-Batterien (gleiches Sichtfeld); Beobachtungsbedingungen: 1KV

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