Hitachi Scan Elektronenmikroskop SU1510

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Hitachi Scan-Elektronenmikroskop SU1510 verwendet ein raffiniertes Design, verglichen mit ähnlichen Geräten Auflösung und Konfiguration unter den gleichen Umständen, Volumen um 20% reduziert, Platz zu sparen, Standard mit Sekundärelektronen und Rückstreuung Detektor, einfache Form und Linie gleichzeitig beobachten, mit Hitachi Wolfram Lampe Elektroskop gemeinsam vier Partial-Druck, vier Löcher Licht Appendix, hochauflösende Rückstreuung, lange Linie und so weiter * Design.

Produktdetails

Hitachi Scan Elektronenmikroskop SU1510

Produktvorstellung:

Mit ausgefeiltem Design, Volumenreduzierung von 20% im Vergleich zu der gleichen Auflösung und Konfiguration der gleichen Art von Geräten, Platzeinsparung, Standard mit Sekundärelektronik und Rückstreuungsdetektoren, die gleichzeitige Beobachtung von Form und Auskleidung erleichtern, mit Hitachi Wolframmdraht-Elektroskop mit Vier-Partial-Druck, Vier-Loch-Licht-Appendix, hohe Auflösung Rückstreuung, lange Auskleidung usw. * Design.

Mit einer Breite von nur 55 cm ist das Host ein kompaktes, leistungsstarkes, variables Druck-Scan-Elektroskop mit einer Auflösung von 3,0 nm.

Hitachi Scan-Elektronenmikroskop SU1510 Hauptmerkmale:

Der Hauptkörper des Instruments ist um 20% kleiner als in der Vergangenheit und kann freier den Installationsort wählen.

2, Standard mit einer niedrigen Vakuumfunktion, kann die nicht leitende Beobachtung ohne Spritz durchgeführt werden. Hoch-Niedrig-Vakuum-Konvertierung mit einem Klick abgeschlossen.

3, Probentesch kann Proben mit einem großen Durchmesser von 153 mm und einer Höhe von 60 mm (WD = 15 mm) laden und EDX-Analyse durchführen.

4, leistungsstarke Maussteuerungsfunktion, die alle Operationen des Elektroskops erreichen kann.

5, Molekularpumpe Vakuumsystem, sauber ohne Verschmutzung.

Technische Parameter:

Sekundäre elektronische Auflösung	3,0 nm (Hochvakuum, 30 kV)
Rückstreuung Elektronen Auflösung	4,0 nm (niedriges Vakuum: 60Pa, 30kV)
Vergrößerung	5 ~ 300.000 Mal
Beschleunigte Spannung	0,3 bis 30 kV
Probentesch	X 0 ~ 80 mm Y 0 ~ 40mm Z 5 ~ 50mm T-20 ~ 80mm R 360°
Plattform Steuerung	Manuell (optional: 2-Achsmotor)
Zui große Probengröße laden	Durchmesser: 153mm
Zui Beobachtungsbereich	Durchmesser: 126mm (mit XYR)
Zui große Probenhöhe	60 mm (WD = 15 mm)
Niedriger Vakuumbereich	6-270Pa (Menü-Einstellungen)
Glühfaden	Vorgepaarter Wolfram Lampdraht
Objektiv Licht append	4 Löcher variables Licht Append
Waffendruck	Fixed proportional bias, manual bias, automatic 4 bias
Detektoren	Sekundäre Elektronendetektoren, hochempfindliche Halbleiter-Rückstreuerungs-Elektronendetektoren
EDX Analyse Standorte	WD = 15mm, TOA = 35 °
Vakuumsystem	1 Molekularpumpe, 1 mechanische Pumpe
Sicherheitsmaßnahmen	Stromausfall, Leckage, automatischer Schutz

Anwendungsbereiche:

Halbleiter

Biologische

Polymer

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