Digitale Probenahme Osziloskop von Tec

Digitale Probenahme Osziloskop von Tec

Eigenschaften:

Messgenauigkeit des elektrischen Modulsignals:

• Ultra niedrige Systemjitter (<100 fs, typischer Wert)
• > 70 GHz

Niedriger Systemgeräusch auf allen Bandbreiten:

• Großer Wert 600 µV (typischer Wert 450 µV) @ 60 GHz
• Großer Wert 380 µV (typischer Wert 280 µV) @ 30 GHz

Mehr als sechs Kanäle auf einem Host erfassen gleichzeitig <100 fs Shake.

Optische Module unterstützen optische Konsistenztests bei allen Standardgeschwindigkeiten von 155 Mbit/s bis 100 Gb/s (4x25) Ethernet.

Ausgezeichneter Erfassungsdurchsatz mit Abtastraten von bis zu 300 kS/s.

Der Probenahmer kann in der Nähe des Testgerätes (DUT) platziert werden.

Unabhängige kalibrierte Kanaldifferenzkorrektur.

Digitale Probenahme Osziloskop von Tec Vorteil：

Der Grundjitter von <100 fs ermöglicht die Prüfung von Geräten mit hohen Bitraten (40 und 100 (4´25) Gb/s), die typischerweise mit einem Signaleinheitsintervall von <5% vom Testgerät verwendet werden. Die Bandbreite von 70 GHz ermöglicht eine vollständige Prüfung von Signalen mit hohen Bitraten (Harmonie der 5. Reihe bei Datenraten von 28 Gb/s und Harmonie der 3. Reihe bei Datenraten > 45 Gb/s).

Reduzieren Sie die Geräuschmenge des Instruments bei der Erfassung von Signalen mit hoher Bitrate und niedriger Amplitude erheblich und vermeiden Sie andere Geräusche, die zusätzliche Schütteln und Augenschließen verursachen können.

Die hochfidelitäre Erfassung von mehreren Differenzkanälen ermöglicht Inter-Channel-Schädigungstests und erhöht den Testdurchsatz für mehrere Hochgeschwindigkeits-serielle Kanalsysteme.

Erschwingliche, vielseitige optische Testsysteme für Single- und Multimode-Optik-Standards von 155 Mb/s (OC3/STM1) bis 40 Gb/s (SONET/SDH und 40GBase Ethernet) und 100 Gb/s Ethernet (100GBase-SR4, -LR4 und ER4) mit Wellenlängen von 850, 1310 und 1550 nm.

Durch den ausgezeichneten Systemdurchsatz können die Fertigungs- oder Geräteprüfzeiten um das Viermale verkürzt werden.

Der Remote-Probenkopf reduziert die Signalverschlechterung durch Kabel und Befestigungen zwischen dem DUT und dem Instrument erheblich und vereinfacht die Gegeneinbettung des Testsystems.

Integrierte kalibrierte Kanaldifferenzkorrektur im Dual-Channel-Modul zur Beseitigung von Zeitverzögerungen und zur Verbesserung der Signaltrauheit bei Mehrkanalmessungen.