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Shanghai Sintz Präzisionsinstrumente Co., Ltd.
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Importiertes Metallphasemikroskop

VerhandlungsfähigAktualisieren am01/21
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BXFM Mini-Systemmikroskop Details: Flexibilität der Probengröße ESD-kompatibel: Schutz der Elektronik vor elektrostatischen Entladungen amp; #215; Die 100-mm-Tragstelle bietet in X-Richtung eine größere Reichweite als frühere Modelle. Zusammen mit dem flachen Design der Tragplatte können große Proben oder mehrere Proben einfach auf die Tragplatte platziert werden.

Produktdetails

BXFM Mini-System Import Metallphasemikroskop Detaillierte Beschreibung:

Importiertes MetallphasemikroskopFlexibilität der Probengröße ESD-kompatibel: Schutz der Elektronik vor elektrostatischen Entladungen Die neue 150 x 100 mm-Tragstelle bietet einen größeren Fahrweg in X-Richtung als die früheren Modelle. Zusammen mit dem flachen Design der Tragplatte können große Proben oder mehrere Proben einfach auf die Tragplatte platziert werden. Kleine Löcher auf der Tragplatte können zur Festlegung des Probenhalters verwendet werden. Größere Trägerständer bieten den Anwendern die Flexibilität, mehr Proben auf einem Mikroskop zu prüfen, was wertvollen Laborplatz einspart. Das drehmomentverstellbare Tragstisch erleichtert die feine Positionierung des schmalen Sichtfeldes in hoher und niedriger Höhe. Proben mit einer Zui-Höhe von 105 mm können mithilfe der optionalen Modulkomponente auf dem Tragstisch platziert werden
Auf. Dank der verbesserten Fokussierungsmechanismus kann das Mikroskop ein Gesamtgewicht von 6 kg aufnehmen (Probe + Träger). Das bedeutet, dass BX3M größere und schwerere Proben untersuchen kann, wodurch die Anzahl der Mikroskope, die im Labor benötigt werden, reduziert wird. Durch die strategische Positionierung des drehbaren Halters für 6-Zoll-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer Die Drehmomenteinstellung des Trägers ist optimiert, um die Bedienung zu erleichtern, bequemer Griff für den Benutzer ist es einfacher, den Bereich des Interesses der Probe zu finden, wenn die Probe zu groß ist, um auf einem herkömmlichen Mikroskopträger zu platzieren, kann die Kernoptikkomponente für die reflektierende Lichtmikroskop-Beobachtung in ein modulares System montiert werden. Dieses modulare System, das BXFM genannt wird, kann über einen Stützstab auf einen größeren Halter oder über einen Montagestütz auf ein anderes Instrument montiert werden. Dadurch können Anwender die Vorteile der ausgezeichneten optischen Komponenten von Olympus voll nutzen, auch wenn die Proben in ihrer Größe oder Form sehr gut sind*.
Besondere Bilder von UIS2-Objektiven Besondere Bilder von UIS2-Objektiven
Bildbeispiele beobachten


Sichtfeldbeobachtung

Dunkel beobachten

Differentielle Interferenzbeobachtung

Fluorenzbeobachtung


Reiches Produktsortiment, nach Bedarf auswählbar
MPLAPON Flachfeld-Multiplex-Farbdifferenzlinsen
MPLFLN Flachfeld-halbfarbiges ObjektivMPLFLN-BD Flachfeld-Halbfarbdifferenz-Linse für helle und dunkle SichtfelderMPLFLN-BDP Flachfeld-Halbfarbdifferenzlinsen für reflektiertes polarisiertes LichtLMPLFLN Lange Arbeitsstrecke Flachfeld Halbfarbdifferenz Linse
LMPLFLN-BD Halbfarbdifferenzlinsen für helles und dunkles Sichtfeld mit langer ArbeitsdistanzMPLN Flachfeld-Farbdifferenz-LinseMPLN-BD Flachfeld-Farbdifferenz-Linse für helle und dunkle SichtfelderSLMPLN Super Lange Arbeitsdistanz Flachfeld Farbdifferenz LinseLCPLFLN-LCD Flüssigkristall Lange Arbeitsdistanz Flachfeld Halbfarbdifferenz LinseReichreiches Zubehör für InspektionsanforderungenDirekt schaltbarer Elektroobjektivwandler

Ein elektrischer Objektivwandler ist mit einem manuellen Schalter konfiguriert, um das gewünschte Objektiv direkt zu schalten. Verbesserte Beobachtungseffizienz, um zu verhindern, dass Staub auf die Probe fällt.


Elektroobjektivwandler

Diagramm des elektrischen Objektivumsetzers

* Konzentrischer zentraler Korrektur Objektivumsetzer

Um die gleiche Konzentration zwischen den drei Objektiven zu erreichen, ist ein zentraler 7-Loch-Objektivwandler mit zwei zentralen Korrekturmechanismen ausgestattet. Selbst wenn das Objektiv von einer niedrigen Vergrößerung auf eine hohe Vergrößerung umgewandelt wird, verschiebt sich das Bildzentrum nicht, was die Inspektionseffizienz verbessert.


U-P5BDRE

U-P6RE

Beleuchtungssysteme für verschiedene Lichtquellen

Für Quecksilber- und Xenongaslichtquellen ist ein Beleuchtungssystem des Modells APO ausgestattet, das die Farbdifferenz von sichtbarem bis nahem Infrarot korrigiert. Bitte wählen Sie nach Bedarf ein Beleuchtungssystem aus.


Lichtkasten

Faserbeleuchtung

Mit einer Digitalkamera können Sie digitale Bilder aufnehmen und speichern

Die Drei-Auge-Kamera kann mit einer Digitalkamera verbunden werden. Digitale Bilder können gespeichert und aufgezeichnet werden, um Inspektionsberichte zu erstellen. Sie können die gewünschte Digitalkamera in Bezug auf Bildqualität, Funktionalität, Bedienbarkeit usw. auswählen.

Kleine Systemmikroskope BXFM Spezifikationen
Optische Systeme Optisches System UIS2 (unbegrenzte Fernkorrektur)
Körper Beobachtungsmethoden Helle Sichtfeld / Dunkle Sichtfeld / Differential Interferenz / Einfache Polarisation / Fluoreszenz
Reflexion / Transmission Reflexion
Beleuchtung Helle und Dunkle Sichtfeldreflektierende Beleuchtung (Helle und Dunkle Sichtfeld/Differential Interference/Einfache Polarisation)
Universelle reflektierende Beleuchtung (Lichtfeld/Dunkelfeld/Differenzialinterferenz/Einfache Polarisation/Fluoreszenz)
Beleuchtungssystem 反射照明 100 W Halogen/100 W Quecksilber/75 W Xenon/Lichtleitfaser
Durchlässige Beleuchtung -
Fokussiereinheit Elektro/manuell manuell
Reise 30 mm
Auflösung / Feinabstimmung der Empfindlichkeit Trinkknopfdrehung 1 Woche Bewegung 0,2 mm
Zui große Probenhöhe -
Objektivumsetzer Elektrotyp Sichtfeld-Differenzierungsinterferenz 6 Löcher
Licht-Dunkel-Sichtfeld-Differenzierungsinterferenz 5 Löcher
Hell and Dark Vision Differential Interference Center Korrektur von 5 Löchern
Licht-Dunkel-Sichtfeld-Differenzierungsinterferenz 6 Löcher
Manuell Sichtfeld 5 Löcher
Sichtfeld-Differenzierungsinterferenz 6 Löcher
Sichtfeld Differential Interferenz Center Korrektur 6 Löcher
Sichtfeld Differenzierungsinterferenz 7 Löcher
Licht und Dunkelsicht 5 Löcher
Licht-Dunkel-Sichtfeld-Differenzierungsinterferenz 5 Löcher
Hell and Dark Vision Differential Interference Center Korrektur von 5 Löchern
Licht-Dunkel-Sichtfeld-Differenzierungsinterferenz 6 Löcher
Laststelle Reise -
Beobachtungskammer Weitwinkel (Anzahl 22) Umkehren Zwei-Auge / Drei-Auge / Neige-Zwei-Auge-Beobachtungskammer
Genau so. Drei-Augen-/Neigungs-Doppelblick
Ultrabreites Sichtfeld (Anzahl der Sichtfelder 26,5) Umkehren Dreifache Beobachtungskammer
Genau so. Drei-Augen-/Schräg-Drei-Augen-Beobachtungskammer
Zubehör Einheit -
Größe 248 (W) × 587 (D) × 249 (H) mm (Standardkombination)
Gewicht 9 kg (Standardkombination)