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BXFM Mini-System Import Metallphasemikroskop Detaillierte Beschreibung:

Importiertes MetallphasemikroskopFlexibilität der Probengröße ESD-kompatibel: Schutz der Elektronik vor elektrostatischen Entladungen Die neue 150 x 100 mm-Tragstelle bietet einen größeren Fahrweg in X-Richtung als die früheren Modelle. Zusammen mit dem flachen Design der Tragplatte können große Proben oder mehrere Proben einfach auf die Tragplatte platziert werden. Kleine Löcher auf der Tragplatte können zur Festlegung des Probenhalters verwendet werden. Größere Trägerständer bieten den Anwendern die Flexibilität, mehr Proben auf einem Mikroskop zu prüfen, was wertvollen Laborplatz einspart. Das drehmomentverstellbare Tragstisch erleichtert die feine Positionierung des schmalen Sichtfeldes in hoher und niedriger Höhe. Proben mit einer Zui-Höhe von 105 mm können mithilfe der optionalen Modulkomponente auf dem Tragstisch platziert werden
Auf. Dank der verbesserten Fokussierungsmechanismus kann das Mikroskop ein Gesamtgewicht von 6 kg aufnehmen (Probe + Träger). Das bedeutet, dass BX3M größere und schwerere Proben untersuchen kann, wodurch die Anzahl der Mikroskope, die im Labor benötigt werden, reduziert wird. Durch die strategische Positionierung des drehbaren Halters für 6-Zoll-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer-Wafer Die Drehmomenteinstellung des Trägers ist optimiert, um die Bedienung zu erleichtern, bequemer Griff für den Benutzer ist es einfacher, den Bereich des Interesses der Probe zu finden, wenn die Probe zu groß ist, um auf einem herkömmlichen Mikroskopträger zu platzieren, kann die Kernoptikkomponente für die reflektierende Lichtmikroskop-Beobachtung in ein modulares System montiert werden. Dieses modulare System, das BXFM genannt wird, kann über einen Stützstab auf einen größeren Halter oder über einen Montagestütz auf ein anderes Instrument montiert werden. Dadurch können Anwender die Vorteile der ausgezeichneten optischen Komponenten von Olympus voll nutzen, auch wenn die Proben in ihrer Größe oder Form sehr gut sind*.
Besondere Bilder von UIS2-Objektiven Besondere Bilder von UIS2-Objektiven
Bildbeispiele beobachten
![]() Sichtfeldbeobachtung |
![]() Dunkel beobachten |
![]() Differentielle Interferenzbeobachtung |
![]() Fluorenzbeobachtung |
Reiches Produktsortiment, nach Bedarf auswählbar
MPLAPON Flachfeld-Multiplex-FarbdifferenzlinsenMPLFLN Flachfeld-halbfarbiges ObjektivMPLFLN-BD Flachfeld-Halbfarbdifferenz-Linse für helle und dunkle SichtfelderMPLFLN-BDP Flachfeld-Halbfarbdifferenzlinsen für reflektiertes polarisiertes LichtLMPLFLN Lange Arbeitsstrecke Flachfeld Halbfarbdifferenz Linse
LMPLFLN-BD Halbfarbdifferenzlinsen für helles und dunkles Sichtfeld mit langer ArbeitsdistanzMPLN Flachfeld-Farbdifferenz-LinseMPLN-BD Flachfeld-Farbdifferenz-Linse für helle und dunkle SichtfelderSLMPLN Super Lange Arbeitsdistanz Flachfeld Farbdifferenz LinseLCPLFLN-LCD Flüssigkristall Lange Arbeitsdistanz Flachfeld Halbfarbdifferenz LinseReichreiches Zubehör für InspektionsanforderungenDirekt schaltbarer Elektroobjektivwandler
Ein elektrischer Objektivwandler ist mit einem manuellen Schalter konfiguriert, um das gewünschte Objektiv direkt zu schalten. Verbesserte Beobachtungseffizienz, um zu verhindern, dass Staub auf die Probe fällt.
![]() Elektroobjektivwandler |
![]() Diagramm des elektrischen Objektivumsetzers |
* Konzentrischer zentraler Korrektur Objektivumsetzer
Um die gleiche Konzentration zwischen den drei Objektiven zu erreichen, ist ein zentraler 7-Loch-Objektivwandler mit zwei zentralen Korrekturmechanismen ausgestattet. Selbst wenn das Objektiv von einer niedrigen Vergrößerung auf eine hohe Vergrößerung umgewandelt wird, verschiebt sich das Bildzentrum nicht, was die Inspektionseffizienz verbessert.
![]() U-P5BDRE |
![]() U-P6RE |
Beleuchtungssysteme für verschiedene Lichtquellen
Für Quecksilber- und Xenongaslichtquellen ist ein Beleuchtungssystem des Modells APO ausgestattet, das die Farbdifferenz von sichtbarem bis nahem Infrarot korrigiert. Bitte wählen Sie nach Bedarf ein Beleuchtungssystem aus.
![]() Lichtkasten |
![]() Faserbeleuchtung |
Mit einer Digitalkamera können Sie digitale Bilder aufnehmen und speichern
Die Drei-Auge-Kamera kann mit einer Digitalkamera verbunden werden. Digitale Bilder können gespeichert und aufgezeichnet werden, um Inspektionsberichte zu erstellen. Sie können die gewünschte Digitalkamera in Bezug auf Bildqualität, Funktionalität, Bedienbarkeit usw. auswählen.
| Kleine Systemmikroskope BXFM Spezifikationen | |||
| Optische Systeme | Optisches System UIS2 (unbegrenzte Fernkorrektur) | ||
| Körper | Beobachtungsmethoden | Helle Sichtfeld / Dunkle Sichtfeld / Differential Interferenz / Einfache Polarisation / Fluoreszenz | |
| Reflexion / Transmission | Reflexion | ||
| Beleuchtung | Helle und Dunkle Sichtfeldreflektierende Beleuchtung (Helle und Dunkle Sichtfeld/Differential Interference/Einfache Polarisation) Universelle reflektierende Beleuchtung (Lichtfeld/Dunkelfeld/Differenzialinterferenz/Einfache Polarisation/Fluoreszenz) | ||
| Beleuchtungssystem | 反射照明 | 100 W Halogen/100 W Quecksilber/75 W Xenon/Lichtleitfaser | |
| Durchlässige Beleuchtung | - | ||
| Fokussiereinheit | Elektro/manuell | manuell | |
| Reise | 30 mm | ||
| Auflösung / Feinabstimmung der Empfindlichkeit | Trinkknopfdrehung 1 Woche Bewegung 0,2 mm | ||
| Zui große Probenhöhe | - | ||
| Objektivumsetzer | Elektrotyp | Sichtfeld-Differenzierungsinterferenz 6 Löcher Licht-Dunkel-Sichtfeld-Differenzierungsinterferenz 5 Löcher Hell and Dark Vision Differential Interference Center Korrektur von 5 Löchern Licht-Dunkel-Sichtfeld-Differenzierungsinterferenz 6 Löcher | |
| Manuell | Sichtfeld 5 Löcher Sichtfeld-Differenzierungsinterferenz 6 Löcher Sichtfeld Differential Interferenz Center Korrektur 6 Löcher Sichtfeld Differenzierungsinterferenz 7 Löcher Licht und Dunkelsicht 5 Löcher Licht-Dunkel-Sichtfeld-Differenzierungsinterferenz 5 Löcher Hell and Dark Vision Differential Interference Center Korrektur von 5 Löchern Licht-Dunkel-Sichtfeld-Differenzierungsinterferenz 6 Löcher | ||
| Laststelle | Reise | - | |
| Beobachtungskammer | Weitwinkel (Anzahl 22) | Umkehren | Zwei-Auge / Drei-Auge / Neige-Zwei-Auge-Beobachtungskammer |
| Genau so. | Drei-Augen-/Neigungs-Doppelblick | ||
| Ultrabreites Sichtfeld (Anzahl der Sichtfelder 26,5) | Umkehren | Dreifache Beobachtungskammer | |
| Genau so. | Drei-Augen-/Schräg-Drei-Augen-Beobachtungskammer | ||
| Zubehör Einheit | - | ||
| Größe | 248 (W) × 587 (D) × 249 (H) mm (Standardkombination) | ||
| Gewicht | 9 kg (Standardkombination) | ||