ME-L Vollautomatisches hochpräzises Müller-Matrix-Elliptometer

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Der ME-L ist ein vollautomatischer, hochpräziser Müller-Matrix-Elliptometer von wissenschaftlicher Qualität, der die jahrelange Investition des Forschungsteams in die Elliptiktechnologie zusammenfasst und branchenweit innovative Technologien einsetzt, einschließlich Farbdifferenzkompensatoren, synchronisierter Steuerung mit doppelten Rotationskompensatoren und Müller-Matrix-Datenanalyse. Anwendungsbereiche für Halbleiter-Film-Strukturen, Halbleiter-periodische Nanostrukturen, neue Materialien, neue physikalische Phänomensforschung, Flachbildschirme, Photovoltaik-Solarenergie, funktionelle Beschichtungen, Bio- und Chemietechnik, Blockmaterialienanalyse und Tabellen für eine Vielzahl von homogenen / heterogenen Film-Materialien mit Membrandicken, optischen Nano-Rasterkonstanten und einer / zwei-dimensionalen Nano-Raster-Materialstruktur

Produktdetails

Produktmodell	ME-L Vollautomatisches hochpräzises Müller-Matrix-Elliptometer
Hauptmerkmale	1, die Verwendung von Deuteriumlampen und Halogenlampen mit einer Lichtquelle, die UV-bis nahen Infrarotbereich (193-2500 nm) abdeckt Müller-Matrix-Datenverarbeitung, größere Messinformationsmenge, schnelle Messgeschwindigkeit und genauere Daten Basierend auf der Konfiguration des Doppel-Rotationskompensators können 16 Elemente der gesamten Müller-Matrix auf einmal gemessen werden und umfassendere Messinformationen im Vergleich zu herkömmlichen Spektralellipsometern erhalten werden. 4, um sicherzustellen, dass ein hochwertiges und stabiles Bandspektrum im breiten Spektrumbereich bereitgestellt wird Hunderte von Materialdatenbanken, eine Vielzahl von Algorithmusmodellbibliotheken, die den größten Teil der derzeitigen optischen Materialien abdecken 6, Integration der Analyse des Nano-Rasters, kann gleichzeitig messen und analysieren die nanostrukturelle Zyklus, Linienbreite, Linienhöhe, Seitenwandwinkel, Rauheit und andere geometrische morphologische Informationen
technische Parameter	1. Anwendung: Forschung / Unternehmensniveau Grundfunktionen: Psi/Delta, R/T, Müller-Matrix und andere Spektren Analysespektrum: 380-1000 nm (Unterstützung für Erweiterung auf 210-1650 nm) Einzelmesszeit: 1-8s Wiederholbare Messgenauigkeit: 0,005 nm Genauigkeit (direkte Messung der Luft) Elliptische Parameter: ψ = 45 ± 0,05 °ElliptischeParameter: ψ = 0 ± 0,1 ° Müller-Matrix: Diagonalelement m = 1 ± 0,005; Nicht-diagonale Elemente m = 0 ± 0,005 7, Fleckgröße: große Flecken 2-3mm; Mikroflecken 200μm
Optionale Konfiguration	Bandauswahl V: 380-1000nm UV: 245-1000nm XN: 210-1650nm DN+: 193-2500nm Auswahl des Winkels Automatisch: 45-90° Manuell: 55-75° (5° Schritt), 90° Festlegung: 65° Weitere Optionen Mapping Auswahl: 100 x 100mm (zur Referenz, auf Anfrage anpassbar) Thermostat: Raumtemperatur 1 600C (zur Referenz, auf Anfrage angepasst)
Optionales Zubehör	1	Temperatursteuerung
	2	Mapping Erweiterungsmodule
	3	Vakuumpumpen
	4	Transmittionsadsorptionskomponenten

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